CMM Styli หรือบางคนมักเรียกกันว่า สไตลัส (Stylus), โพรบ (Probe) หรือ โพรบสัมผัส (Touch Probe) เป็นส่วนประกอบพิเศษที่ใช้กับเครื่อง CMM (Coordinate Measuring Machine)
“เครื่อง CMM เป็นอุปกรณ์การวัดความแม่นยำที่ใช้ในกระบวนการผลิตและการควบคุมคุณภาพเพื่อตรวจสอบความถูกต้องและมิติของชิ้นส่วนหรือผลิตภัณฑ์”
และ CMM styli เป็นจุดที่สัมผัสกับพื้นผิวของวัตถุที่กำลังวัด โดยจะติดอยู่กับหัวโพรบของ CMM ซึ่งจะมีรูปร่าง ขนาด และการกำหนดค่าต่างๆ เพื่อรองรับข้อกำหนดการวัดที่แตกต่างกัน
ส่วนปลายของ Styli (Styli Tip) มักทำจากวัสดุหลายประเภท ยกตัวอย่างเช่น เซรามิก (Ceramic) ทังสเตนคาร์ไบด์ (Tungsten Carbide) หรือทับทิม (Ruby) ซึ่งเป็นที่รู้กันดีในด้านความแข็ง ความทนทาน และความทนทานต่อการสึกหรอ ซึ่งลักษณะการใช้งานของวัสดุที่นำมาใช้ทำ Styli tip แต่ละชนิดนั้น การเลือกใช้งาน วัสดุ Material ของ Probe
Silicon Nitride
Ruby
Zirconium Oxide
Aluminum Oxide
Carbide
Diamond Coated
หน้าที่หลักของ CMM styli คือการสัมผัสทางกายภาพกับพื้นผิวของชิ้นส่วนในตำแหน่งเฉพาะเพื่อรวบรวมจุดข้อมูล จากนั้นเครื่อง CMM จะใช้ข้อมูลนี้เพื่อสร้างการแสดงสามมิติของรูปทรงเรขาคณิตของชิ้นส่วน ทำให้สามารถวัดและเปรียบเทียบกับข้อกำหนดการออกแบบที่ต้องการได้อย่างแม่นยำ
เป็นประเภทพื้นฐานและพบได้ทั่วไป โดยมีแกนตรงที่มีปลายเป็นทรงกลมหรือปลายแหลม ใช้สำหรับการวัดวัตถุประสงค์ทั่วไป
มีส่วนที่ต่อออกไป หรือมีขาหลายอันที่ยื่นออกมาจากฐานตรงกลาง การออกแบบนี้ช่วยให้สามารถวัดคุณลักษณะต่างๆ ในมุมต่างๆ หรือเข้าถึงพื้นที่ที่ยากต่อการเข้าถึงได้
มีปลายเป็นลักษณะรูปจานแบน มีประโยชน์สำหรับการวัดพื้นผิวระนาบหรือลักษณะต่างๆ เช่น เส้นผ่านศูนย์กลางรู
สไตลัสเหล่านี้ จะมีรูปทรงกระบอกและเหมาะสำหรับการวัดงานที่มีลักษณะเป็นทรงกระบอก เช่น รูหรือเพลา
สไตลัส CMM สามารถใช้แทนกันได้ ทำให้ผู้ปฏิบัติงานสามารถเลือกการกำหนดค่าสไตลัสที่เหมาะสมตามงานการวัดและรูปทรงของชิ้นส่วน สามารถเปลี่ยนหรือสับเปลี่ยนได้ง่ายเพื่อปรับให้เข้ากับ parameter ของการวัดที่แตกต่างกัน
โดยรวมแล้ว CMM สไตลัส มีบทบาทสำคัญที่ทำให้ได้ผลการวัดที่แม่นยำและและเพิ่มประสิทธิภาพในการตรวจสอบและการควบคุมคุณภาพงาน ดังนั้นการเลือกใช้สไตลัสที่มีคุณภาพดี มีมาตรฐานการผลิตที่ดีในราคาที่สมเหตุสมผลนั้น จึงมีผลอย่างมากในการเพิ่มประสิทธิภาพการวัดงานและในขณะเดียวกันยังสามารถลดต้นทุนที่เกิดขึ้นในกระบวนวัดต่อปี ได้เป็นมูลค่าที่สูงมากเลยทีเดียว