กล้องจุลทรรศน์อิเล็กตรอน SEM กำลังขยายถึง 880,000x : JSM-IT210

กล้องจุลทรรศน์อิเล็กตรอน SEM กำลังขยายถึง 880,000x : JSM-IT210

กล้องจุลทรรศน์อิเล็กตรอน SEM กำลังขยายถึง 880,000x : JSM-IT210

กล้องจุลทรรศน์อิเล็กตรอน SEM กำลังขยายถึง 880,000x : JSM-IT210

กล้องจุลทรรศน์อิเล็กตรอน SEM กำลังขยายถึง 880,000x : JSM-IT210

JSM-IT210

The JEOL JSM-IT210 is a modern scanning electron microscope (SEM) designed for scientific research and high-level industrial applications. It offers high-resolution imaging and precise analytical capabilities, making it an essential tool for materials science, nanotechnology, and biological research.

Features: SEM JSM-IT210

High Resolution

The JSM-IT210 is capable of producing excellent images with a resolution of up to 0.5 nanometers, allowing researchers to observe details at the nanoscale with clarity.

High-end analysis machine

It comes with Energy Dispersive X-ray Spectroscopy (EDS) and Electron Backscatter Diffraction (EBSD) for comprehensive material analysis and phase characterization.

Easy to use

The user-friendly interface and software enable researchers to operate the microscope and analyze data efficiently.
It is suitable for a wide range of applications, including materials science, nanotechnology, biology, and quality control in industry.

Specification

Contact us

JSM-IT210

Categories Measurement Instruments, Microscope