สเตจ XY ที่สามารถขยับฐานกล้องจุลทรรศน์ไมโครสโคป ตามแกน XY พร้อมทั้งสเกลวัดระยะที่ขยับตามแกน X และ แกน Y ให้การขยับ และระหว่างการตรวจสอบทำได้โดยไม่ต้องขยับวัตถุ และการขยับตามระยะที่กำหนด ให้ได้ค่าที่แม่นยำขึ้น